Thickness-dependent structural and electrical properties of multiferroic Mn-doped BiFeO[sub 3] thin films grown epitaxially by pulsed laser deposition
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掺Mn的BFO薄膜的电导机制详细对照研究； 列举4类典型漏电机制 1、Schottky emmision，产生在电极-材料界面处，电流密度对数lnJ与电场平方根sqrt(E)成线性关系； 2、space-charge-limited current (SCLC)，材料内部的空间电荷，lnJ与lnE成线性关系； 3、Poole–Frenkel (PF) emission，点缺陷诱发离子激活，ln(J/E)与sqrt(E)呈线性关系； 4、Fowler–Nordheim (FN) tunneling，隧穿电导，ln(J/E^2)与1/E成线性关系。 通过实验数据与模型的对照，作者发现电导机制为Schottky+FN型。 |
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BiFeO3
