Third-Order Phase Lock Loop Measurement and Characterization
handsomeland 添加于 2022-7-19 19:25
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作 者
Ma J, Li M, Marlett M-
详细资料
- 文献种类:会议
- 会议: IEEE International Conference on Test, 2005.
- 期卷页: 56-65页
- 出版社: Ieee
- 位置: Charlotte, NC, USA
- 日期: -
- ISBN: 0-7803-9038-5
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