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XRD测定炭素材料的石墨化度

文献种类: Journal Article
期刊名称: 中南工业大学学报
期卷页: &nbsp;2001 年 &nbsp; 第 32 卷 &nbsp; 第 3 期

zsbird1223 添加于 2010-5-28 18:39 | 2576 次阅读 | 0 个评论

研究了用XRD测定炭素材料石墨化度的原理和方法，指出其本质是精确测定炭石墨六方晶格的C轴点阵常数值，为此，用高纯硅粉做内标以校准测量误差。为提高精度，选用高角度的C004-Si311，当式样的石墨化度较低时，因C004强度太小，选用C002-Si331线对。

值得注意的是，该文提出，当有几种炭材料混合时，其石墨化程度不同，衍射线呈现明显的不对称性，此时必须进行多重峰分离处理，分离出的字峰通常无需再进行双线分离，即可直接用来计算各组份的石墨化度；由各子峰的积分强度可计算不同石墨化度组分的相对含量。（对本人课题有非常重要的指导意义。）

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