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Thickness-dependent structural and electrical properties of multiferroic Mn-doped BiFeO[sub 3] thin films grown epitaxially by pulsed laser deposition

handsomeland 添加于 2011-6-29 12:03 | 3259 次阅读 | 0 个评论

作者
Zhu XH, Béa H, Bibes M, Fusil S, Bouzehouane K, Jacquet E, Barthélémy A, Lebeugle D, Viret M, Colson D
详细资料
- 文献种类: Journal Article
- 期刊名称: Applied Physics Letters
- 期刊缩写: Appl. Phys. Lett.
- 期卷页: 2008年第93卷第8期 082902页
- ISBN: 0003-6951
学科领域自然科学 » 物理学
所属群组
BiFeO3
标签

BiFeO3 conductivity defects
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掺Mn的BFO薄膜的电导机制详细对照研究；
列举4类典型漏电机制
1、Schottky emmision，产生在电极-材料界面处，电流密度对数lnJ与电场平方根sqrt(E)成线性关系；
2、space-charge-limited current (SCLC)，材料内部的空间电荷，lnJ与lnE成线性关系；
3、Poole–Frenkel (PF) emission，点缺陷诱发离子激活，ln(J/E)与sqrt(E)呈线性关系；
4、Fowler–Nordheim (FN) tunneling，隧穿电导，ln(J/E^2)与1/E成线性关系。
通过实验数据与模型的对照，作者发现电导机制为Schottky+FN型。

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