Optical Characterization of Deep Level Defects in SiC
colorstone 添加于 2011-12-29 13:53
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作 者
Magnusson B, Janzén E -
详细资料
- 文献种类: Journal Article
- 期刊名称: Materials Science Forum
- 期刊缩写: MSF
- 期卷页: 2005年 第483-485卷 341-346页
- ISBN: 1662-9752
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