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有附件Optical Characterization of Deep Level Defects in SiC

colorstone 添加于 2011-12-29 13:53 | 1341 次阅读 | 0 个评论
  •  作 者

    Magnusson B, Janzén E
  •  详细资料

    • 文献种类: Journal Article
    • 期刊名称: Materials Science Forum
    • 期刊缩写: MSF
    • 期卷页: 2005  483-485 341-346
    • ISBN: 1662-9752
  • 学科领域 工程技术 » 材料科学

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