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Fast Amplitude Modulation Detector for Scanning Force Microscopy with High_Q_Factor

handsomeland 添加于 2023-7-3 10:43 | 413 次阅读 | 0 个评论

作者
Shi Y, Lu Q
详细资料
- 文献种类: Journal Article
- 期刊名称: Microscopy and Microanalysis
- 期刊缩写: Microsc Microanal
- 期卷页: 2012年第18卷第5期 1016-1020页
- ISBN: 1431-9276
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